三維表面測量儀

                          簡要描述:三維表面測量儀由三維表面測量儀生產廠家奧地利Alicona公司研發并生產,操作原理是*的全自動變焦(Focus-Variation)技術,該技術是光學系統的小景深和垂直掃描相結合。InfiniteFocus系列G5/G4/SL,都可用于刀具測量使用。

                          • 產品型號:SL
                          • 更新時間:2022-11-10
                          • 訪  問  量:3206

                          SL三維表面測量儀的詳細資料:

                          品牌Alicona/奧地利價格區間50萬-100萬
                          產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
                            三維表面測量儀生產廠家由奧地利Alicona公司研發并生產,操作原理是的全自動變焦(Focus-Variation)技術,該技術是光學系統的小景深和垂直掃描相結合。
                           
                            三維表面測量儀生產廠家的系統
                           
                            InfiniteFocusSL是一款經濟型、用于實驗室研究和生產控制的光學三維表面形貌測量儀。InfiniteFocusSL除可以測量形貌及微觀結構的表面外,還可以測量部件的粗糙度。*的機身框架和智能的光源使InfiniteFocusSL的測量更快速,更容易。
                           
                            優勢
                           
                            InfiniteFocusSL測量速度快、穩定性強,而且經濟實惠。超過33mm的超長工作距離及50X50mm測量范圍使它擁有了極寬的應用范圍,測量可以在幾秒鐘內完成。
                           
                            應用
                           
                            應用范圍從刀具工業的刃口測量到質量保證及微觀結構的表面刃口測量。InfiniteFocusSL應用于汽車、航天、模具、刀具、機械加工等制造企業。
                           
                            部分技術參數:
                           
                            位移范圍(X/Y):50mm×50mm(自動調節)
                           
                            位移范圍(Z):130mm(26mm自動調節)
                           
                            *垂直分辨率:20nm
                           
                            zui大掃描高度:25mm
                           
                            zui大操作距離:17.5(5×物鏡)
                           
                            zui大擴展視野范圍:2500mm2
                           
                            zui大單一方向測量范圍:50mm
                           
                            zui小測量半徑:2?m
                           
                            zui小測量楔角:20°
                           
                            zui小測量粗糙度(Ra):80nm
                           
                            zui小測量粗糙度(Sa):50nm
                           

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